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三维表面形貌测量传感器IF-Sensor R25
奥地利alicona公司专门针对生产中全自动测量形貌和粗糙度而设计的一款光学三维测量仪。 系 统传感器与生产线相结合使得在测量微米和亚微米级别的表面特性时该设备可以提供高分辨率,可重复型和可溯源
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三维表面形貌测量仪InfiniteFocus SL
(Ra):80nmzei小测量粗糙度(Sa):50nm 三维表面形貌测量仪InfiniteFocus SL InfiniteFocus SL三维表面形貌测量仪由奥地利Alicona公司研发并生产
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三维表面形貌仪
、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。 主要特点: ◆微观二维(2D)和三维(3D)形貌轮廓获取
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三维表面形貌仪
三维表面形貌仪参数:定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动)接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s
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大范围扫描|三维表面形貌测量仪
技术参数 LED光源:λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h 测量时间:5~10秒 测量原理:非接触、共聚焦 X/Y方向,平台移动范围:50mmX50mm,马达驱动,分辨率:0.3
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硅片表面形貌测量 AFM
价格电议英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量 上海伯东代理的英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量应用, 某高校老师通过原子力显微镜进行硅片
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三维表面形貌测量仪InfiniteFocus G5
自动变焦三维表面测量仪InfiniteFocus G5的主要技术参数:位移范围(X轴、Y轴、Z轴):100mm×100mm×100mm样品表面结构:表面形貌Ra>9nm,Lc=2μm,取决于
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三维表面形貌测量仪InfiniteFocus G4
自动变焦三维表面测量仪InfiniteFocus G4的技术参数:位移范围(X、Y、Z轴):100×100×100mm样品表面结构:表面形貌Ra>10-15nm,Lc=2μmzei大样品高度
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三维表面形貌仪 SURFIEW 2000
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三维表面形貌仪 SURFIEW 4000
变化的干涉纹样调整操作台真空操作台,选择操作台,Aligner操作台 三维表面轮廓仪利用光的干扰,可迅速,准确,并高检测性的对1nm~10mm高度的模型的表面想象进行纳米单位测量。Premium
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